ANÁlisis de la topografía del molde para la fabricación del espejo secundario del gran telescopio milimétrico (gtm) por la técnica de proyección de franjas




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Дата конвертации10.02.2013
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ANÁLISIS DE LA TOPOGRAFÍA DEL MOLDE PARA LA FABRICACIÓN DEL ESPEJO SECUNDARIO DEL GRAN TELESCOPIO MILIMÉTRICO (GTM) POR LA TÉCNICA DE PROYECCIÓN DE FRANJAS

(ANALYSIS OF SECUNDARY MIRROR MOLD TOPOGRAPHY TO LARGE MILLIMETER TELESCOPE USING FRINGE PROJECTION TECHNIQUE)

Amalia Martínez, J. A. Rayas, Sergio Vázquez*, Alberto Jaramillo*, R. Rodríguez Vera


Departamento de Metrología Óptica, Centro de Investigaciones en Óptica A. C.

Loma Del Bosque No. 115, Col. Lomas Del Campestre, C. P. 37510, León, Gto.


* Instituto Nacional de Astrofísica, Óptica y Electrónica

Luis Enrique Erro No. 1, Tonantzintla, Pue.

e-mail: amalia@cio.mx


El espejo secundario del GTM [1] tendrá un diámetro aproximado de 2.6 m y con una razón focal de 0.35. Utilizando la técnica de proyección de franjas incoherente [2], se toma una imagen del molde del espejo secundario con las franjas ya proyectadas las cuales se deforman de acuerdo al perfil del molde. Se aplica a esta imagen la técnica detección sincrónica espacial [3] para obtener la fase a partir de la cual se calcula el perfil del objeto bajo estudio. La topografía obtenida es comparada con una simulada en computadora dado que el molde deberá de ser un hiperboloide con radio de curvatura paraxial de 1764.9 mm y una constante de conicidad de -1.1474. Se discutirán los resultados preeliminares donde se obtuvo un RMS de 0.624 cm.


1. http://www.lmtgtm.org/

2. Kjell J. Gåsvik, “Optical Metrology,” John Wiley&Sons Ltd, Great Britain, 1987.

3. D. Malacara, M. Servín, Z. Malacara, “Interferogram Analysis for Optical Testing,” Marcel Dekker, Inc., New York, 1998.

* Agradecimiento: CONCyTEG.

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