Секции Время и место работы




НазваниеСекции Время и место работы
страница1/9
Дата конвертации02.12.2012
Размер1.1 Mb.
ТипДокументы
  1   2   3   4   5   6   7   8   9



Федеральное агентство по образованию

Российской Федерации

Федеральное государственное образовательное учреждение

высшего профессионального образования

«ЮЖНЫЙ ФЕДЕРАЛЬНЫЙ УНИВЕРСИТЕТ»

Физический факультет


ПРОГРАММА

И ТЕЗИСЫ ДОКЛАДОВ

59-й студенческой научной конференции

физического факультета

16 - 20 апреля 2007 г.


Ростов-на-Дону


2007

ЖЮРИ

59-й студенческой научной конференции

Декан факультета, проф. Рабкин Л.М. - председатель

Проф. Тополов В.Ю. - предс. Оргкомитета

Проф. Турик А.В. Проф. Латуш Е.Л.

Проф. Барабашов Б.Г. Проф. Владимирский Б.М.

Проф. Мишуров Ю.Н. Проф. Саченко В.П. Проф. Куприянов М.Ф. Проф. Ведринский Р.В.

Проф. Гавриляченко В.Г. Проф. Синявский Г.П.

Доц. Богатин А.С. Доц. Юзюк Ю.И.

Зам. дек., доц. Федоров С.А.

Зам. дек., доц. Филиппенко В.П.

Зам. дек., доц. Цветянский А.Л.

Зам. дек., доц. Фомин Г.В.


Расписание работы секций

-------------------------------------------------------------------------------------------------

Название секции Время и место работы

-----------------------------------------------------

Физика твердого тела 20 апреля 13.30-16.30 ауд.247

Теоретическая и 17 апреля 13.30-16.30 ауд.247

вычислительная физика

Кристаллофизика и 18 апреля 13.30-17.00 ауд.121

структурный анализ

Физика полупроводников 18 апреля 13.30-16.00 ауд.247

Физика космоса 18 апреля 13.30-16.00 ауд.313

Биофизика, 18 апреля 13.30-17.00 акт.зал

биокибернетика, 19 апреля 13.30-17.00 НИИ НК

медицинская физика

Методика преподавания 19 апреля 13.30-17.30 ауд.247

физики

Квантовая радиофизика 18 апреля 13.30-18.00 ауд.206

Радиофизика 17 апреля 15.00-17.30 ауд.211

Английский язык

- бакалавры 16 апреля 8.30-11.50 ауд.111

- магистры 23 апреля 13.30-16.00 ауд.111

Философия 16 апреля 8.30- 9.55 ауд.245

10.05-11.30 ауд.336

19 апреля 8.30- 9.55 ауд.242

10.05-11.30 ауд.219

11.50-13.15 ауд.317

Заключительное 24 апреля 11.00-11.50 деканат

заседание жюри

Подведение итогов 24 апреля 15.00-17.00 ауд.247

Награждение победителей

----------------------------------------------------------


Секция "Физика твердого тела"


Председатель: проф. Рабкин Л.М.

Члены жюри: проф.Солдатов А.В., проф.Торгашев В.И., проф.Козаков А.Т., доц. Мясникова Т.П., доц. Дуймакаев Ш.И., доц. Мазурицкий М.И., доц. Штехин И.Е., доц. Яловега Г.Э., зав. ОРС НИИФ Шуваев А.Т., с.н.с. НИИФ Козинкин А.В., доц. Юзюк Ю.И., доц. Широков В.Б.


1. Сопоставление оптических спектров CdSnO3 и CdTiO3 при фазовых переходах

Докл.: студ. 5 к. Богомолов И.А.

Рук.: доц. Мясникова Т.П.

В спектре поглощения CdSnO3 в видимой области наблюдалась полоса с максимумом 422 нм, а в спектре CdTiO3 – 417 нм. Параметр Урбаха σ имеет резонансные минимумы для CdSnO3 при 80°С и 150°С, а для CdTiO3 - при 110°С и 150°С.

В ближней ИК-области CdSnO3 наблюдалась полоса поглощения с центром 8800 см-1 и полушириной 0,69 эВ, а в спектре CdTiO3 - полоса поглощения 9100 см-1 и полушириной 1,03 эВ. Эти полосы можно отнести к поляронам большого радиуса с энергией связи, равной 0,26 и 0,27 эВ соответственно.


2. Оптические спектры титаната бария с добавкой меди при фазовых переходах

Докл.: студ. 5 к. Скляров Д.И.

Рук.: доц. Мясникова Т.П.

В видимой области спектра титаната бария с добавкой меди наблюдалась полоса поглощения с максимумом 420 нм, которую следует отнести к вибронному экситону с переносом заряда, так как длинноволновый край этой полосы сильно зависит от температуры и наблюдается зеленая люминесценция (λmax = 500 нм).

Особенности в оптических спектрах, а именно минимумы параметра Урбаха σ и минимумы степени деполяризации после люминесценции позволяют предположить, что фазовый переход из сегнетоэлектрической фазы в параэлектрическую происходит при 120°С, а при 150°С происходит перестройка электронной подсистемы. В ближней ИК-области в спектре наблюдались полосы с максимумом коэффициента поглощения 4250 и 14100 см-1, соответствующие поляронам малого и большого радиуса с энергией активации 0,13 эВ и 0,42 эВ.


3. Сопоставление оптических спектров NaNO2 и AgNa(NO2)2 при фазовых переходах

Докл.: студ. 5 к. Григоренко О.С.

Рук.: доц. Мясникова Т.П.

В видимой области спектра NaNO2 наблюдалась полоса поглощения с максимумом 400 нм, а в спектре AgNa(NO2)2 - 440 нм. Особенности в оптических спектрах NaNO2 , а именно минимумы параметра Урбаха σ и степени деполяризации после люминесценции, наблюдались при температурах 120°С и 160°С, а для AgNa(NO2)2 - при 40°С и 70°С.

Это позволяет предположить наличие фазового перехода при этих температурах. В ближней ИК-области в спектре наблюдалась широкая полоса с максимумом коэффициента поглощения 14100 см-1, относящаяся к полярону большого с энергией связи 0,42 эВ, а в спектре AgNa(NO2)2 в ближней ИК-области - полоса с максимумом 4500 см-1, относящаяся к поляронам малого радиуса с энергией активации 0,14 эВ.


4. ТЕОРЕТИЧЕСКИЙ РАСЧЕТ УГЛОВОГО РАСПРЕДЕЛЕНИЯ ИЗЛУЧЕНИЯ НА ВЫХОДЕ ПЛОСКОГО НАНОРАЗМЕРНОГО РЕНТГЕНОВСКОГО ВОЛНОВОДА

Докл.: студ. 2 г. маг. Марочкина А.С., асп. 1 г. Махно П.В.

Рук.: проф. Лерер А.М., доц. Мазурицкий М.И.

Написана и отлажена программа теоретического расчета углового распределения интенсивности излучения на выходе плоского рентгеновского волновода, представляющего воздушный зазор между двумя кварцевыми пластинами. Для CuKα флуоресценции получено хорошее согласие между теоретическими и экспериментальными кривыми для волноводов, имеющих зазор между пластинами от 40 до 3000 нм. Сделан вывод о применимости метода Кирхгоффа при расчёте пространственного распределения интенсивности рентгеновского излучения.


5. К РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНОМУ ФЛУОРЕСЦЕНТНОМУ АНАЛИЗУ НЕНАСЫЩЕННЫХ ОБРАЗЦОВ БЕЗ ИЗМЕРЕНИЯ ПОВЕРХНОСТНОЙ ПЛОТНОСТИ

Докл.: студ. 4 к. Ничипорюк С.С.

Рук.: ст. преп. Игнатова Ю.А., ст. преп. Сорочинская М.А., доц. Дуймакаев Ш.И.

При РСФА в широко распространенных условиях, когда анализируемого материала достаточно, образцы изготовляют заведомо насыщенными, или толстыми. Под насыщенным (толстым) слоем понимают слой образца, который обеспечивает получение величины интенсивности флуоресценции, составляющей не менее 99% по сравнению с интенсивностью образца бесконечной толщины. Понятно, что с дальнейшим увеличением толщины образца (по сравнению с толщиной насыщенного слоя) интенсивность практически не увеличивается. Толщина насыщенного слоя образца зависит от длин волн флуоресцентного и первичного рентгеновского излучения и ослабляющих свойств образца (т.е. от общего элементного состава образца) и обычно составляет десятки или сотни мкм.

В аналитических лабораториях часто имеют с ненасыщенными образцами, напр., пленками. Тогда приходится в процессе элементного РСФА специально учитывать и влияние переменной толщины (или переменной поверхностной плотности) образца.

В настоящей работе предлагается метод анализа ненасыщенных образцов без измерения поверхностной плотности образца.

В этом случае представляется перспективным исследование возможности проведения РСФА пленочных образцов с использованием полиномов вида


Сi = (1)

Но с привлечением специальной нормировки, заключающейся в следующем:

1. По формулам вида (1) находят содержания всех элементов пробы – первое приближение содержаний;

2. Вычисляют сумму найденных содержаний элементов;

3. Нормируют интенсивности всех элементов пробы умножением их на величину (1+), где , ,

;

4. Нормированные значения интенсивностей снова подставляют в уравнения вида (1), получая 2-е приближение содержаний, и т.д.

Градуировка уравнений (1) выполняется по массивным образцам.

Преимущество этой поправки состоит в том, что она учитывает непропорциональное изменение интенсивностей флуоресценции для разных

элементов с изменением толщины пленки.

По данному алгоритму написана программа, которая позволяет достаточно быстро проводить анализ.


6. К РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНОМУ ФЛУОРЕСЦЕНТНОМУ АНАЛИЗУ ТОНКИХ ГОМОГЕННЫХ ПЛЕНОК НА КРИСТАЛЛИЧЕСКОЙ ПОДЛОЖКЕ

Докл.: студ. 5 к. Пономаренко В.О., студ. 2 к. Попова А.А., студ. 2 к. Яковлева Л. Ю.

Рук.: к. ф.-м.н., зав. лаб. НИИФ Ковтун А.П.; доц. Дуймакаев Ш.И.

В настоящей работе разрабатывается метод анализа тонких пленок на кристаллической подложке, который позволит контролировать не только качественный и количественный состав пленок, но и их толщину. В основу метода положено измерение дополнительно к интенсивности аналитических линий пленочного образца интенсивности отраженных от кристаллической подложки брегговских рефлексов, которые наблюдаются при упругом рассеянии рентгеновского излучения. В работе представляется модификация методики измерений рентгеновских спектров применительно к спектрометру DX-95 (фирмы EDAX) для исследования этого явления. Применительно к камере измерений спектрометра изготовлен и апробирован макет гониометра для проведения систематических измерений глубинных параметров кристаллических подложек.

Применительно к РСФА ненасыщенных образцов развит метод определения поверхностной плотности m на основе измерения интенсивностей флуоресценции 2-х элементов подложки и использования формулы

, (1)

где – эффективный (средний) атомный номер пленочного образца, m – поверхностная плотность пленочного образца. При этом флуоресцентное излучение элемента В более жесткое, нежели элемента D.

Возможность определения величины m связана, однако, с необходимостью нахождения величиныметодом итераций.


7. Исследование локального окружения активных центров металлопротеинов методом рентгеновской спектроскопии поглощения

Докл.: студ. 5 к. Ольховая Ю.А.
  1   2   3   4   5   6   7   8   9

Добавить в свой блог или на сайт

Похожие:

Секции Время и место работы iconЗаседание секции а «Телекоммуникационные образовательные технологии в банках и государственных учреждениях»
Место и время проведения конференции: пансионат Управления делами Президента РФ «поляны» с 12. 00 10 апреля по 12. 00 13 апреля 2012...

Секции Время и место работы iconСписок участников Х открытой научно-практической конференции школьников «Достижени-Я» 2012 Время и место проведения: 1 февраля 2012 г., 14. 00, Мбоу дод «Дом детского творчества» г. Чебоксары Чувашской Республики Секции: медицина
Время и место проведения: 1 февраля 2012 г., 14. 00, Мбоу дод «Дом детского творчества» г. Чебоксары Чувашской Республики

Секции Время и место работы iconКалендарный план мероприятий исследовательского комитета секции «социология религии» Роса на 2005 год
Собрание секции, отчет за деятельность в 2004 г., определение основных направлений работы и подготовка плана работы на 2005 год

Секции Время и место работы iconПрограмма работы секции составлена с учетом рекомендаций ведущих специалистов в области физической культуры и спорта и адаптирована к условиям работы в школе.
Физическое воспитание является одной из важнейших составляющих единого воспитательно-образовательного процесса формирования растущей...

Секции Время и место работы iconОтчет о работе секции «Управление персоналом»
Секция «Управление персоналом» работает в составе умо по образованию в области менеджмента с 2004 г. Разрешите подвести своеобразный...

Секции Время и место работы icon237/09 08 декабря 2009 года Место и время вскрытия конвертов с заявками
Место и время вскрытия конвертов с заявками: г. Собинка, ул. Садовая, д. 4, актовый зал 09-00 часов по московскому времени

Секции Время и место работы iconМетодика: дополнительное образование баскетбол Программа занятий спортивной секции для учащихся 5-9-х классов
На протяжении многих лет работы в школе я провожу занятия секции баскетбола. В ней занимаются ученики 5–9-х классов. С самого начала...

Секции Время и место работы iconКонкурсная документация на закупку «Проектные работы и поставка оборудования по техническому переоснащению секции №2 «цоф «Свердловская»
«Проектные работы и поставка оборудования по техническому переоснащению секции №2 «цоф «Свердловская» ООО «дтэк свердловантрацит»,...

Секции Время и место работы iconКак выбрать спортивную секцию для ребенка?
Настает время задуматься о его дальнейшем воспитании и физическом развитии. В наше время предложений в этой области великое множество....

Секции Время и место работы iconОбразец искового заявления
Истец: (наименование, место нахождения, регистрационные данные организации; фамилия, имя, отчество, дата и место рождения, место...


Разместите кнопку на своём сайте:
lib.convdocs.org


База данных защищена авторским правом ©lib.convdocs.org 2012
обратиться к администрации
lib.convdocs.org
Главная страница